Tarvike ja lisävaruste

Näytetään tulokset 1–6 / 22

  • Bentham Valolähteet
    Bentham valonlähdevalikoima on kehitetty soveltumaan heidän järjestelmiin ja niiden käyttäjille ja tarjoaa nyt yhden tai useampia lamppuja aaltoalueelle 200 nm – 40 µm:
  • Gigahertz-Optik ODM heijastusstandardit, UvVisNir
    OP.DI.MA. on erityisesti käsitelty PTFE-materiaali joka toimii läpikuultavana heijastimena. Tämä tarkoittaa sitä, että kun säteily tulee materiaaliin se heijastuu siitä materiaalin muokkaamana säteilynä. Tämä johtaa lähes täydelliseen diffuusiheijastukseen mikä on seurausta säteilyn siroamisesta sen osuessa materiaalin pintaan. ODMP on erityinen muoto PTFE materiaalista pigmentoituna mustalla lisäaineella.…
  • Gigahertz-Optik ODM98 optisesti viimeistellyt levyt
    ODM98 käytetään yleisesti heijastavuusstandardeina (tasainen pinta) kalibroinnissa: – Spektrofotometrit – Imaging System Pixel Uniformity – Heijastuskykymittarit – Pintavärimittari
  • Gigahertz-Optik ODM98-CUS, UV-VIS-NIR
    Gigahertsin-Optik tarjoaa täyden mukautetun suunnittelu- ja työstöpalvelun koskien ODM98-materiaalia. Näihin palveluihin kuuluvat 3D CAD-suunnittelutyö, CNC-ohjelmointi käyttäen omia suunnitelmia tai asiakkaan toimittamia CAD- ja/tai CNC-suunnitelmia. Pienet määrät tehdään käyttämällä varastossa olevia raakalohkoja tai raakalevymateriaaleja. Asiakaskohtaiset määrät sisältävät mukautetun raaka-ainekoon,…
  • Gigahertz-Optik ODM98-P Raw Plates, UV-VIS-NIR
    Raaka ODM98 levyjä voidaan työstää tasaisiksi heijastusstandardeiksi ja pieniksi osiksi kuten integroivan pallon suojalevyiksi ja muiksi optisiksi osiksi joilta vaaditaan korkeaa heijastavuutta. Kustannustehokuuden vuoksi raakalevyn koko pitäisi olla niin lähellä kuin mahdollista lopputuotteen mittoja. Asiakaskohtaisesti valmistettuja levyjä voi tilata suurempina määrinä. Asiakaskohtaisesti valmistettuja…
  • Gigahertz-Optik ODM98, UV-VIS-NIR, hajaheijastus
    OP.DI.MA. on erityistä jalostettua synteettistä materiaalia, joka toimii läpikuultavana heijastimena. Tämä tarkoittaa sitä, että kun säteily tulee materiaaliin se heijastuu siitä materiaalin muokkaamana säteilynä. Tämä johtaa lähes täydelliseen diffuusiheijastukseen mikä on seurausta säteilyn hajaheijastumisesta sen osuessa materiaalin pintaan.

End of content

End of content

Etsitkö oikeaa mittaria sovellukseesi?

Kerro mittaustarpeesi – autamme valitsemaan sopivan laitteen ja järjestämme tarvittaessa esittelyn.